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低温实验 2015年06月26日 关键词:低温实验

 概     述        用于考核或确定经受温度突变(Aa)(Ba)、渐变(Ab)(Bb)的非散热和温度突变(Ac)(Bc)、温度渐变(Ad)(Bd)的散热电工、电子产品(包括元件、设备及其他产品)在低温环境条件下储存和使用的适应性
实验设备  高低温实验箱
  要    求   

          1、 低温实验的温度TL必须低于产品技术条件规定的低温工作温度。研发实验低,样机实验次之,例

                行实验高;通常状况下三个阶段的TL 都取-40℃。

         2、 低温存储实验:考验零部件运输过程中的低温存储性能。实验前,常温下进行功能实验, 被测产品不

               包装、不通电,以正常位置放入实验箱内,使实验箱温度达到(-40±2)℃,温度稳定后持续48h

               持续期满,在正常大气条件下放置2h,恢复到常温后取出,进行功能实验,外观要求没有损坏。功能

               状态等级要求达到C级。 低温工作实验:考验零部件低温工作电器性能。实验前,常温下进行功能

               实验,被测产品在刚调整温度时处于关机状态,以正常位置放入实验箱内,2h后开机,使温度达到-

               40℃,温度稳定后,持续24h,恢复到常温后取出,进行功能实验,外观要求没有损坏。功能状态等

                级要求达A级。


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